我們在看CPK報告時，不知道大家是否注意到它的計算方式是：M13，6百分數(shù)（0.135%-50%-99.865%），看到這里大家會不禁想這是什么鬼？它并不是我們?nèi)粘＠斫獾腃p的算法（Cp=T/6σ）。

使用公式 Cp=T/6σ 的前提是過程是處于統(tǒng)計受控狀態(tài)，即穩(wěn)定的、正態(tài)分布的過程行為。但是人們在對生產(chǎn)過程進行全面分析后，卻發(fā)現(xiàn)只有非常少的過程表現(xiàn)為正態(tài)分布的穩(wěn)定狀態(tài)。

ISO 22514-2-2017標準通過定義了一系列典型的過程模型為估算實際工業(yè)過程性能及過程能力提供了框架性的方法，這一系列的典型過程模型首先按照是否穩(wěn)定，然后就其瞬時分布是否恒定、是否有系統(tǒng)性變化或隨機變化來進一步劃分，由此質(zhì)量過程性能和過程能力的評價將按照各類不同的時間相依的分布模型來進行。

Cpk（過程能力指數(shù)）和Ppk（過程性能指數(shù)）是比較容易混淆的概念。

簡單來說，Cpk用于描述這樣一個過程，其已經(jīng)被證明是處于統(tǒng)計受控狀態(tài)（有關(guān)過程的變異僅僅是由隨機因素造成的）下的。這些相應指標的特征值是對此過程生產(chǎn)出“好產(chǎn)品”的能力的一種估計。

如果一個過程可能還沒有被證明它是處于統(tǒng)計受控狀態(tài)，那么就應該使用的是過程性能，并且計算潛在的過程性能指數(shù)Pp和實際過程性能指數(shù)Ppk。

（“可能還沒有被證明”這一謹慎的提示，在某些場合可被解釋如下：暫時的過程能力符合常規(guī)情形，以及用相當少的數(shù)據(jù)計算而得到的暫時的過程能力指數(shù)，都不能證明過程處于統(tǒng)計受控狀態(tài)，因此相應的指數(shù)必須始終稱為Pp/Ppk。)

為了研究穩(wěn)定狀態(tài)（統(tǒng)計受控狀態(tài)）不穩(wěn)定狀態(tài)（統(tǒng)計失控狀態(tài)）長期能力Cp/CpkPp/Ppk（Q-DAS定義為Tp/Tpk）短期能力Pp/PpkPp/Ppk

時間相依的分布模型：在計算指數(shù)之前先要對過程的狀態(tài)進行分析判斷，對過程狀態(tài)的分析判斷首先包括了根據(jù)過程表現(xiàn)對分布模型進行的識別，一個被考察的特征指標的表現(xiàn)可以通過它的分布來描述，其中分布的參數(shù)，如：位置參數(shù)、離差參數(shù)和形狀參數(shù)等，可以隨著時間的變化而發(fā)生改變。將這些時間相依的分布模型一般分為如下幾種情況。

時間分布模型A1

時間分布模型A2

時間分布模型B

時間分布模型C1

時間分布模型C2

時間分布模型C3

時間分布模型C4

時間分布模型D

總結(jié)起來，人們可以得到如下摘要：

標準采用新的途徑對各種指數(shù)的不同計算方法進行劃分，其不同點在于：

一種通用的幾何方法 M1

兩種顯示包含額外波動的方法 M2和M3

一種使用上端缺陷率和下端缺陷率的方法M4

下標 l 代表的位置參數(shù) μ 有5種不同的方法計算：

大多數(shù)情況下，實際當中都使用算術(shù)平均值μ。但是按照標準，因為在分布是傾斜的情況下，全部數(shù)據(jù)的中位數(shù)X50%比起均值來要更靠近眾數(shù)（在直方圖中的最大值）一些，所以它會更好一些。

下標 d 代表的離散參數(shù)Δ有6種不同的方法來估計：

計算方法的選擇

到這里，我們就可以對開篇的M13，6百分數(shù)（0.135%-50%-99.865%）做出解釋。

M1：一種通用的幾何方法；

l=3：μ=X50%；

d=6：Δ=X99.865%-X0.135%

PS:關(guān)于方法M1、M2、M3、M4的具體算法還請參照標準ISO 21747-2006（該標準已廢除，新標準為ISO22514-2-2017)。