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一般來(lái)說(shuō)，器件的應(yīng)用必須首先進(jìn)行合格檢驗(yàn)，應(yīng)用過(guò)程中出現(xiàn)故障等也需要進(jìn)行器件的特性分析。 1、電子器件的驗(yàn)證 器件的驗(yàn)證主要是測(cè)試電子元器件在電路中的工作狀態(tài)和設(shè)計(jì)以及器件額定條件是否一致、合理，提供給研發(fā)工程師改進(jìn)的參考，并確定產(chǎn)品的設(shè)計(jì)。而對(duì)于功率器件的驗(yàn)證，這些測(cè)試尤為重要。 泰克科技的器件驗(yàn)證方案可以很好滿足這些測(cè)試。典型的器件驗(yàn)證測(cè)試原理如圖。  在汽車電子產(chǎn)品中都使用DC-DC 轉(zhuǎn)換器。在這些設(shè)備中，必須采用升壓或降壓方法對(duì)電源進(jìn)行穩(wěn)壓，為內(nèi)部電路供電 。泰克科技（吉時(shí)利）數(shù)字源表源測(cè)量單元(SMU) 非常適合這類DC-DC 轉(zhuǎn)換器測(cè)試 ： ■ 利用兩個(gè)源測(cè)量單元(SMU) 或者一個(gè)雙通道源測(cè)量單元(SMU)，可以進(jìn)行各種直流I-V 測(cè)試 ■ 源測(cè)量單元(SMU) 可以用作源和負(fù)載，并提供多種電流和電壓源和負(fù)載  DC-DC 轉(zhuǎn)換器I/V 特性分析中常見(jiàn)的測(cè)試 ■ 負(fù)載電(CL)：從DC-DC 轉(zhuǎn)換器流出并進(jìn)入作為負(fù)載的源測(cè)量單元(SMU) 的電流就是負(fù)載電流(CL)。在圖2 的I/V 曲線中給出了負(fù)載電流。 ■ 輸出電壓 (VO)：在DC-DC 轉(zhuǎn)換器輸出端測(cè)得的電壓就是輸出電壓(VO)。在圖2 的I/V 曲線中給出了輸出電壓。 ■ 其他測(cè)試包括: ■ 輸入電壓(VI) ■ 輸入電流(CI) ■ DC-DC 轉(zhuǎn)換器效率(EFFDC-DC)  圖示給出利用吉時(shí)利雙通道數(shù)字源表源測(cè)量單元 (SMU)DC-DC 轉(zhuǎn)換器進(jìn)行測(cè)量的I/V 曲線。 2、電子器件的測(cè)試( 半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試) 作為保證電子器件品質(zhì)的測(cè)試來(lái)說(shuō)，半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀是最佳的選擇工具，泰克科技曾經(jīng)提供了業(yè)界最可靠的、高性能的半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀370 和371，現(xiàn)在，工程師可以選擇泰克科技最新的半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀系列，這些系列的測(cè)試工具提供了高性能的參數(shù)規(guī)格，既可以完成電子器件的品質(zhì)檢測(cè)，也可以作為可靠性、失效性分析的最佳工具。  |
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